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普通会员第2年
公司类型：系统集成商
主营产品：半导体测试设备、光耦测试、晶振测试、二极管雪...
所在地区：陕西省 西安市
注册时间：2025-03-05
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BW-3010A
晶体管光耦参数测试仪
品牌： 博微电通
名称：晶体管光耦参数测试仪
型号： BW-3010A
用途： BW-3010A光耦参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。
BW-3010A产品介绍：
BW-3010A光耦参数测试仪是专为各种光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010A为各种三极管型光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数：
产品信息
产品型号：BW-3010A
产品名称：晶体管光耦参数测试仪；
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或可燃性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
服务领域：
半导体光耦参数测试
应用场景：
▶研发分析 : 根据测试数据进行功率器件研发设计阶段的测试分析
▶失效分析：失效测试分析，失效机理分析、 过程分析及改善依据
▶选型配对：同类型器件参数对比分析、选型参数依据、一致性分析类比
▶来料检验：检验部/质量部（IQC）对出入库器件进行抽检/全检，把控器件的良品率
▶量产测试：可与机械手、扫码枪、分选机、编带机、探针台等外部设备联机测试，实现规模化、自动化快速测试
产品特点：
▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.
▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1400V；
▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
▶软件自校准功能；
▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；
▶两种工作模式：手动、自动测试模式。
BW-3010A主机和DUT的管脚对应关系
型号类型 | P1 | T1 | P2 | T2 | P3 | T3 | P4 | T4 |
光藕PC817 | A | A测试端 | K | K测试端 | E | E测试端 | C | C测试端 |
BW-3010A测试技术指标：
1、 耐压(VCEO)测试指标
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-1400V | 1V | <2%+2RD | 0-2mA |
2、输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
3、反向漏电流(ICEO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | BVCE=25V |
4、电流传输比(CTR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-20V IF:0-100MA |
5、输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC：0-1.000A IF:0-1.000A |
6、极性识别方式：自动极性转向测试 （自动识别方向）
7、 可分档位总数：10档。
